[BA202400397]碳化硅外延片-采购与招标网(www.chinabidding.cn)

关于网站升级改版的通知

各党政机关、企事业单位、公司：

感谢大家一直以来对采购与招标网的关注和支持。基于业务整体发展的需要，更为进一步提升网站服务水平，我平台近期对网站系统进行了全面改版升级，推出以元博网为核心的综合性服务平台，旗下产品“采购与招标网”、“元博网关系圈”、“元博网大数据”业务覆盖整个招投标产业链，为市场各方在招投标过程中产生的各类需求提供一站式的整体解决方案。

新网站已于2021年1月20日上线试运行，试运行期间原“采购与招标网” 会保持并行，给大家带来的不便，敬请原谅，如有任何问题、意见请拨打400热线，我们将一如既往竭诚为您服务！

热线 400-006-6655 转1业务咨询；2发布信息；7售后服务；

二十多年来，我们始终坚持“专注业务，成就客户”的发展理念，用匠心创造价值，让信息连接未来。

我们的使命是：让天下没有难中的标。

祝商祺！

项目编号	BA（略）	项目名称	碳化硅外延片
经办人单位	经办人	（略）景彬
预算金额	（略）.（略）人民币	成交金额	（略）.（略）人民币
成交供应商	质保期	6 月
联系地址	（略）-（略）-惠州大亚湾霞涌河西五巷（略）号（略）房	采购单位	吉林（略）
付款方式	成交单签订后预付成交单总金额的（略）%，货到验收合格（略）相关手续后付余款。(适用于加工定制类)
供应商联系手机	（略）	交货时间	成交单签订后（略）天内交货
交货地址	（略）-（略）-（略）室
交货方式	乙方免费将产品送达甲方用户单位指定地点。
包装及运费	由乙方免费提供及承担
验收方式	以成交单为准，参考相关内容进行验收。验收程序以甲方职能部门规定为准。
售后服务要求	本合同质保期为0.5年，自货物交付之日开始计算。售后服务要求供应商协助提供所列文字材料：（1）：研究报告1份；（2）：协助我方申请发明专利5项（包括说明书、说明书摘要、说明书附图、权利要求书、摘要附图）并参与回复审查意见，直到专利申请流程结束；（3）：封装方案1份；（4）：协助完成测试报告（电学性能测试、稳定性测试）。
采购材料	自主采购评审报告.pdf

项目编号

BA（略）

项目名称

碳化硅外延片

经办人单位

经办人

（略）景彬

预算金额

（略）.（略）人民币

成交金额

（略）.（略）人民币

成交供应商

质保期

6 月

联系地址

（略）-（略）-惠州大亚湾霞涌河西五巷（略）号（略）房

采购单位

吉林（略）

付款方式

成交单签订后预付成交单总金额的（略）%，货到验收合格（略）相关手续后付余款。(适用于加工定制类)

供应商联系手机

（略）

交货时间

成交单签订后（略）天内交货

交货地址

（略）-（略）-（略）室

交货方式

乙方免费将产品送达甲方用户单位指定地点。

包装及运费

由乙方免费提供及承担

验收方式

以成交单为准，参考相关内容进行验收。验收程序以甲方职能部门规定为准。

售后服务要求

本合同质保期为0.5年，自货物交付之日开始计算。售后服务要求供应商协助提供所列文字材料：（1）：研究报告1份；（2）：协助我方申请发明专利5项（包括说明书、说明书摘要、说明书附图、权利要求书、摘要附图）并参与回复审查意见，直到专利申请流程结束；（3）：封装方案1份；（4）：协助完成测试报告（电学性能测试、稳定性测试）。

采购材料

自主采购评审报告.pdf

采购品目	其他信息化学品	品牌名称	未光
名称	碳化硅外延片	产地及生产商
规格型号	（略）mm8mm0.7mm	数量	（略）
计量单位	套	保修年限	1 年
单价	（略）.（略）人民币	总价	（略）.（略）人民币
主要技术参数	NO. 表征单位规格 1 晶型 - 4H 2 表面 - 硅面 (（略）)silicon-face 3 主平边长度 mm （略）.5±1.5 4 衬底电阻率 Ohm·cm 0.（略）~0.（略） 5 偏（略）方向<（略）-（略）> - 4±0.5° 6 主参考面晶向 - <（略）-（略）>±0.5° 7 衬底微管密度 cm-2 ≤0.2 （略）缺陷可用面积 (2x2 mm2 Die) - ≥（略）% 表面缺陷包括但不限于三（略）形、掉落物、彗星缺陷和胡萝卜缺陷 cm-2 ≤0.5 基平面位错BPD cm-2 ≤0.5 划痕 Scratch - 总长度≤0.5个直径崩边或裂痕(不去边) edge chip or Cracks - zero （略）表面粗糙度(Ra,（略）x（略） μm2) nm 0.5 （略）背面背抛 μm ≤（略）.0 （略）背面刮痕距边缘位置 mm ≤2.0 （略）背面异物(去边2mm) - zero （略）平面度总厚度变化TTV μm ≤（略）.0（略）部厚度变化-最大值LTV-Max μm ≤3.0（略）部厚度变化-平均值LTV-Avg μm ≤2.0 弯曲度BOW μm ±（略）.0 翘曲度WARP μm ≤（略）.0 平均厚度 μm (（略）±（略）)+（略）（略）金属污染 Na,K,Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni, Cu,Zn,Au,Ag,V,Hg,W atoms/cm-2 ≤5E+（略）（略）碳化硅外延片数量为（略）套（（略）片），其中性能验收电子束测试样机（略）套（包含（略）片碳化硅外延片）；封装（略）套（包含（略）片碳化硅外延片）。（略）由碳化硅外延片制成的β辐射伏特效应核电池的封装方案和性能测试样品满足：指标一：提供封装后器件体积<（略）5mm的封装方案；指标二：电子束测试样机输出功率>（略）μW（含电容器等储能器件（略）的（略）体瞬时输出功率）。

采购品目

其他信息化学品

品牌名称

未光

名称

碳化硅外延片

产地及生产商

规格型号

（略）mm*8mm*0.7mm

数量

（略）

计量单位

套

保修年限

1 年

单价

（略）.（略）人民币

总价

（略）.（略）人民币

主要技术参数

NO. 表征单位规格 1 晶型 - 4H 2 表面 - 硅面 (（略）)silicon-face 3 主平边长度 mm （略）.5±1.5 4 衬底电阻率 Ohm·cm 0.（略）~0.（略） 5 偏（略）方向<（略）-（略）> - 4±0.5° 6 主参考面晶向 - <（略）-（略）>±0.5° 7 衬底微管密度 cm-2 ≤0.2 （略）缺陷可用面积 (2x2 mm2 Die) - ≥（略）% 表面缺陷包括但不限于三（略）形、掉落物、彗星缺陷和胡萝卜缺陷 cm-2 ≤0.5 基平面位错BPD cm-2 ≤0.5 划痕 Scratch - 总长度≤0.5个直径崩边或裂痕(不去边) edge chip or Cracks - zero （略）表面粗糙度(Ra,（略）x（略） μm2) nm 0.5 （略）背面背抛 μm ≤（略）.0 （略）背面刮痕距边缘位置 mm ≤2.0 （略）背面异物(去边2mm) - zero （略）平面度总厚度变化TTV μm ≤（略）.0（略）部厚度变化-最大值LTV-Max μm ≤3.0（略）部厚度变化-平均值LTV-Avg μm ≤2.0 弯曲度BOW μm ±（略）.0 翘曲度WARP μm ≤（略）.0 平均厚度 μm (（略）±（略）)+（略）（略）金属污染 Na,K,Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni, Cu,Zn,Au,Ag,V,Hg,W atoms/cm-2 ≤5E+（略）（略）碳化硅外延片数量为（略）套（（略）片），其中性能验收电子束测试样机（略）套（包含（略）片碳化硅外延片）；封装（略）套（包含（略）片碳化硅外延片）。（略）由碳化硅外延片制成的β辐射伏特效应核电池的封装方案和性能测试样品满足：指标一：提供封装后器件体积<（略）5mm的封装方案；指标二：电子束测试样机输出功率>（略）μW（含电容器等储能器件（略）的（略）体瞬时输出功率）。

公告

尊敬的用户：